 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO/TS 17915:2013 |  на печать | | Оптика и фотоника. Метод измерения полупроводниковых лазеров для зондирования |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO/TS 17915:2013 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Метод измерения полупроводниковых лазеров для зондирования | | Заглавие на английском языке | Optics and photonics -- Measurement method of semiconductor lasers for sensing | | Дата отмены | 25.05.2018 00:00:00 | | Код КС (ОКС, МКС) | 31.260 | | Обозначение заменяющего | ISO 17915:2018 | | ТК – разработчик стандарта | TC 172/SC 9 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 25.06.2013 | | Количество страниц оригинала | 32 | | Код цены | E | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO/TS 17915:2013 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|