|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO/TS 17915:2013 | на печать | Оптика и фотоника. Метод измерения полупроводниковых лазеров для зондирования |
|
| | Библиография Обозначение | ISO/TS 17915:2013 | Статус | Заменен | Вид стандарта | ST | Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Метод измерения полупроводниковых лазеров для зондирования | Заглавие на английском языке | Optics and photonics -- Measurement method of semiconductor lasers for sensing | Дата отмены | 25.05.2018 00:00:00 | Код КС (ОКС, МКС) | 31.260 | Обозначение заменяющего | ISO 17915:2018 | ТК – разработчик стандарта | TC 172/SC 9 | Язык оригинала | английский | Номер издания | 1 | Дата опубликования | 25.06.2013 | Количество страниц оригинала | 32 | Код цены | E | Примечание | | |
| | Стандарт ISO/TS 17915:2013 входит в рубрики классификатора:
| |
| |
|
|
|
Цены |
На языке оригинала |
Нет
|
|
|