| Обозначение | ISO/TS 17915:2013 |
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Оптика и фотоника. Метод измерения полупроводниковых лазеров для зондирования |
| Заглавие на английском языке | Optics and photonics -- Measurement method of semiconductor lasers for sensing |
| Дата отмены | 25.05.2018 00:00:00 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 31.260 |
| Обозначение заменяющего | ISO 17915:2018 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 172/SC 9 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 25.06.2013 |
| Количество страниц оригинала | 32 |
| Код цены | E |
| Примечание | |
 |