 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 17862:2013 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 17862:2013 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers | | Дата отмены | 23.09.2022 00:00:00 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяющего | ISO 17862:2022 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 10.12.2013 | | Количество страниц оригинала | 32 | | Код цены | D | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 17862:2013 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|