| Обозначение | ISO 17862:2013 |
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности времяпролетных масс-анализаторов для подсчета отдельных ионов |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers |
| Дата отмены | 23.09.2022 00:00:00 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| Обозначение заменяющего | ISO 17862:2022 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 10.12.2013 |
| Количество страниц оригинала | 32 |
| Код цены | D |
| Примечание | |
 |