 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 14706:2014 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Определение загрязнения химическими элементами поверхности кремниевых пластин методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF) |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 14706:2014 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Определение загрязнения химическими элементами поверхности кремниевых пластин методом рентгенофлуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF) | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 14706:2000 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 25.07.2014 | | Количество страниц оригинала | 32 | | Код цены | D | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 14706:2014 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
24710,00
|
|
|
|