 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 17560:2014 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод профилирования по глубине для бора в кремнии |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 17560:2014 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод профилирования по глубине для бора в кремнии | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 17560:2002 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 10.09.2014 | | Количество страниц оригинала | 18 | | Код цены | B | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 17560:2014 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
10530,00
|
|
|
|