 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN SPEC 52407-2015 |  на печать | | Нанотехнологии. Методы подготовки и оценки для измерения частиц методом атомно-силовой микроскопии и просвечивающей растровой электронной микроскопии |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN SPEC 52407-2015 | | Заглавие на русском языке | Нанотехнологии. Методы подготовки и оценки для измерения частиц методом атомно-силовой микроскопии и просвечивающей растровой электронной микроскопии | | Заглавие на английском языке | Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM) | | Дата опубликования | 01.03.2015 | | МКС | 07.030 | | Вид стандарта | ST | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 23 | | Перекрестные ссылки | DIN 53206-1(1972-08)*DIN 55943(2001-10)*DIN ISO 3696(1991-06)*DIN SPEC 1121(2010-02)*ISO 11952(2014-05)*ISO 18115-2(2013-11)*ISO/FDIS 27891(2014-07)(Draft)*VDI/VDE 2656 Blatt 1(2008-06) | | Код цены | Preisgruppe 12 | |
| | Стандарт DIN SPEC 52407-2015 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|