| Обозначение | DIN SPEC 52407-2015 |
| Заглавие на русском языке | Нанотехнологии. Методы подготовки и оценки для измерения частиц методом атомно-силовой микроскопии и просвечивающей растровой электронной микроскопии |
| Заглавие на английском языке | Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM) |
| Дата опубликования | 01.03.2015 |
| МКС | 07.030 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 23 |
| Перекрестные ссылки | DIN 53206-1(1972-08)*DIN 55943(2001-10)*DIN ISO 3696(1991-06)*DIN SPEC 1121(2010-02)*ISO 11952(2014-05)*ISO 18115-2(2013-11)*ISO/FDIS 27891(2014-07)(Draft)*VDI/VDE 2656 Blatt 1(2008-06) |
| Код цены | Preisgruppe 12 |
 |