 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 17109:2015 |  на печать | | Поверхностный химический анализ. Профилирование по глубине. Метод определения скорости напыления с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, Оже-электронной спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии при профилировании по глубине распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 17109:2015 | | Статус | Заменен | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Поверхностный химический анализ. Профилирование по глубине. Метод определения скорости напыления с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, Оже-электронной спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии при профилировании по глубине распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Depth profiling -- Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films | | Дата отмены | 01.03.2022 01:00:00 | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяющего | ISO 17109:2022 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 4 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 28.07.2015 | | Количество страниц оригинала | 24 | | Код цены | C | | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO 17109:2015 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Нет
|
|
|
|