 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 13083:2015 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты на определение и калибровку пространственной разрешающей способности электрических сканирующих зондовых микроскопов (ESPM), таких как SSRM и SCM, для 2D-визуализации примесей и других целей |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 13083:2015 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты на определение и калибровку пространственной разрешающей способности электрических сканирующих зондовых микроскопов (ESPM), таких как SSRM и SCM, для 2D-визуализации примесей и других целей | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Scanning probe microscopy -- Standards on the definition and calibration of spatial resolution of electrical scanning probe microscopes (ESPMs) such as SSRM and SCM for 2D-dopant imaging and other purposes | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 9 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 20.08.2015 | | Количество страниц оригинала | 22 | | Код цены | C | | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO 13083:2015 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
18346,00
|
|
|
|