 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN EN 62374-1-2011 |  на печать | | Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN EN 62374-1-2011 | | Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010); German version EN 62374-1:2010 + AC:2011 | | Дата опубликования | 01.06.2011 | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 62374-1(2008-02) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 18 | | Перекрестные ссылки | | | Код цены | Preisgruppe 14 | |
| | Стандарт DIN EN 62374-1-2011 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|