| Обозначение | DIN EN 62374-1-2011 |
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Часть 1. Испытание на пробой диэлектрика в зависимости от времени (TDDB) для интерметаллических слоев |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010); German version EN 62374-1:2010 + AC:2011 |
| Дата опубликования | 01.06.2011 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN IEC 62374-1(2008-02) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 18 |
| Перекрестные ссылки | |
| Код цены | Preisgruppe 14 |
 |