 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
DIN 50450-8-2000 |  на печать | | Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение примесей в газах-носителях примесных газах. Часть 8. Определение концентрации числа частиц в потоке азота, использующие лазерный счетчик частиц |
|
| | Библиография | Обозначение | DIN 50450-8-2000 | | Заглавие на русском языке | Испытание материалов, применяемых в технологии изготовления полупроводников. Определение примесей в газах-носителях примесных газах. Часть 8. Определение концентрации числа частиц в потоке азота, использующие лазерный счетчик частиц | | Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 8: Determination of the concentration of the particle number in flowing nitrogen using laser particle counter | | Дата опубликования | 01.05.2000 | | МКС | 71.100.20 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50450-8(1998-04) | | Язык оригинала | немецкий | | Количество страниц оригинала | 5 | | Перекрестные ссылки | VDI 3489 Blatt 3(1997-03)*VDI 3490 Blatt 16(1994-10) | | Код цены | Preisgruppe 6 | |
| | Стандарт DIN 50450-8-2000 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|