 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 19668:2017 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и регистрация пределов обнаружения элементов в однородных материалах |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 19668:2017 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и регистрация пределов обнаружения элементов в однородных материалах | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 14.08.2017 | | Количество страниц оригинала | 32 | | Код цены | D | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 19668:2017 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
24710,00
|
|
|
|