| Обозначение | ISO 19668:2017 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и регистрация пределов обнаружения элементов в однородных материалах |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 14.08.2017 |
| Количество страниц оригинала | 32 |
| Код цены | D |
| Примечание | |
 |