 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60191-1(2018) |  на печать | | Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки контурных чертежей дискретных приборов |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60191-1(2018) | | Заглавие на русском языке | Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки контурных чертежей дискретных приборов | | Заглавие на английском языке | Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60191-1(2007) | | Дата опубликования | 23.01.2018 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47/SC 47D | | Номер издания | 3.0 | | Статус | Действует | | Код цены | H | |
| | Стандарт IEC 60191-1(2018) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
40500,00
|
|
|
|