| Обозначение | IEC 60191-1(2018) |
| Заглавие на русском языке | Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки контурных чертежей дискретных приборов |
| Заглавие на английском языке | Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | IEC 60191-1(2007) |
| Дата опубликования | 23.01.2018 |
| Язык оригинала | английский |
| Количество страниц оригинала | 40 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47/SC 47D |
| Номер издания | 3.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | H |
 |