 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 14701:2018 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины диоксида кремния |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 14701:2018 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины диоксида кремния | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Measurement of silicon oxide thickness | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 14701:2011 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 31.10.2018 | | Количество страниц оригинала | 24 | | Код цены | C | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 14701:2018 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
15876,00
|
|
|
|