| Обозначение | ISO 14701:2018 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины диоксида кремния |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectroscopy -- Measurement of silicon oxide thickness |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| Обозначение заменяемого(ых) | ISO 14701:2011 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 2 |
| Дата опубликования | 31.10.2018 |
| Количество страниц оригинала | 24 |
| Код цены | C |
| Примечание | |
 |