 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 22415:2019 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения коэффициентов распределения кластера аргона при измерении распределения по глубине органических материалов |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 22415:2019 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения коэффициентов распределения кластера аргона при измерении распределения по глубине органических материалов | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 10.05.2019 | | Количество страниц оригинала | 38 | | Код цены | E | | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO 22415:2019 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
25110,00
|
|
|
|