Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6451853.aspx

ISO 22415:2019

Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения коэффициентов распределения кластера аргона при измерении распределения по глубине органических материалов

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеISO 22415:2019
Статус Действует
Вид стандартаST
Заглавие на русском языкеХимический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения коэффициентов распределения кластера аргона при измерении распределения по глубине органических материалов
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials
Код КС (ОКС, МКС)71.040.40
ТК – разработчик стандарта TC 201/SC 6
Язык оригиналаанглийский
Номер издания1
Дата опубликования10.05.2019
Количество страниц оригинала38
Код ценыE
ПримечаниеДокумент содержит цветные иллюстрации

Стандарт ISO 22415:2019 входит в рубрики классификатора: