Обозначение | ISO 22415:2019 |
Статус | Действует |
Вид стандарта | ST |
Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод определения коэффициентов распределения кластера аргона при измерении распределения по глубине органических материалов |
Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Secondary ion mass spectrometry -- Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials |
Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 |
Язык оригинала | английский |
Номер издания | 1 |
Дата опубликования | 10.05.2019 |
Количество страниц оригинала | 38 |
Код цены | E |
Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации |
 |