 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 11952:2019 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических величин с использованием SPM. Калибровка измерительных систем |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 11952:2019 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических величин с использованием SPM. Калибровка измерительных систем | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | Обозначение заменяемого(ых) | ISO 11952:2014 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 9 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 2 | | Дата опубликования | 21.05.2019 | | Количество страниц оригинала | 70 | | Код цены | G | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 11952:2019 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
32238,00
|
|
|
|