Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6453638.aspx

ISO 11952:2019

Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических величин с использованием SPM. Калибровка измерительных систем

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеISO 11952:2019
Статус Действует
Вид стандартаST
Заглавие на русском языкеХимический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия (SPM). Определение геометрических величин с использованием SPM. Калибровка измерительных систем
Заглавие на английском языкеSurface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems
Код КС (ОКС, МКС)71.040.40
Обозначение заменяемого(ых) ISO 11952:2014
ТК – разработчик стандарта TC 201/SC 9
Язык оригиналаанглийский
Номер издания2
Дата опубликования21.05.2019
Количество страниц оригинала70
Код ценыG
Примечание

Стандарт ISO 11952:2019 входит в рубрики классификатора: