 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 21222:2020 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Методика определения модуля упругости гибких материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода Джонсона-Кендалла-Робертса (JKR) |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 21222:2020 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Методика определения модуля упругости гибких материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода Джонсона-Кендалла-Робертса (JKR) | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis Scanning probe microscopy Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 9 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 29.01.2020 | | Количество страниц оригинала | 24 | | Код цены | C | | Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации | |
| | Стандарт ISO 21222:2020 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
18346,00
|
|
|
|