| Обозначение | ISO 21222:2020 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Методика определения модуля упругости гибких материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода Джонсона-Кендалла-Робертса (JKR) |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis Scanning probe microscopy Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 9 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 29.01.2020 |
| Количество страниц оригинала | 24 |
| Код цены | C |
| Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации |
 |