 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 22278:2020 |  на печать | | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Определение кристаллического качества монокристаллических тонких пленок (подложек) методом дифракционного рентгеновского анализа (XRD) с параллельным рентгеновским лучом |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 22278:2020 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Определение кристаллического качества монокристаллических тонких пленок (подложек) методом дифракционного рентгеновского анализа (XRD) с параллельным рентгеновским лучом | | Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam | | Код КС (ОКС, МКС) | 81.060.30 | | ТК – разработчик стандарта | TC 206 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 24.08.2020 | | Количество страниц оригинала | 36 | | Код цены | E | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 22278:2020 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
25110,00
|
|
|
|