 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
BS ISO 20263:2017 |  на печать | | Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials |
|
| | Библиография | Обозначение | BS ISO 20263:2017 | | Заглавие на английском языке | Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials | | Количество страниц оригинала | 54 | |
| | |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
0,00
|
|
|
|