Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6791788.aspx

BS ISO 20263:2017

Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеBS ISO 20263:2017
Заглавие на английском языкеMicrobeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Количество страниц оригинала54