 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 63229(2021) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Классификация дефектов в эпитаксиальной пленке из нитрида галлия на карбидокремниевой подложке |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 63229(2021) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Классификация дефектов в эпитаксиальной пленке из нитрида галлия на карбидокремниевой подложке | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate | | МКС | 31.080.99 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 07.04.2021 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 21 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | F | |
| | Стандарт IEC 63229(2021) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
25110,00
|
|
|
|