 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ASTM F996-11(2018) |  на печать | | Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current–Voltage Characteristics |
|
| | Библиография | Обозначение | ASTM F996-11(2018) | | Заглавие на английском языке | Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current–Voltage Characteristics | | Количество страниц оригинала | 7 | |
| | |
|
|
|
| Цены |
| Оригинал+перевод |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
| На языке оригинала |
0,00
|
|
|
|