Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6881634.aspx

ASTM F996-11(2018)

Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current–Voltage Characteristics

Оригинал+переводПоложить в корзину
На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеASTM F996-11(2018)
Заглавие на английском языкеStandard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current–Voltage Characteristics
Количество страниц оригинала7