 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ASTM E2534-20 |  на печать | | Standard Practice for Targeted Defect Detection Using Process Compensated Resonance Testing Via Swept Sine Input for Metallic and Non-Metallic Parts |
|
| | Библиография | Обозначение | ASTM E2534-20 | | Заглавие на английском языке | Standard Practice for Targeted Defect Detection Using Process Compensated Resonance Testing Via Swept Sine Input for Metallic and Non-Metallic Parts | | Количество страниц оригинала | 10 | |
| | |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
0,00
|
| Оригинал+перевод |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|