Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6883011.aspx

ASTM E2534-20

Standard Practice for Targeted Defect Detection Using Process Compensated Resonance Testing Via Swept Sine Input for Metallic and Non-Metallic Parts

Оригинал+переводПоложить в корзину
На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеASTM E2534-20
Заглавие на английском языкеStandard Practice for Targeted Defect Detection Using Process Compensated Resonance Testing Via Swept Sine Input for Metallic and Non-Metallic Parts
Количество страниц оригинала10