 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ASTM F76-08(2016)e1 |  на печать | | Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors |
|
| | Библиография | Обозначение | ASTM F76-08(2016)e1 | | Заглавие на английском языке | Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors | | Количество страниц оригинала | 14 | |
| | |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
0,00
|
| Оригинал+перевод |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|