 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ASTM F76-08(2016)e1 | на печать | Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors |
|
|  | Библиография Обозначение | ASTM F76-08(2016)e1 | Заглавие на английском языке | Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors | Количество страниц оригинала | 14 |  |
|  |  |
|
 |
 |
Цены |
На языке оригинала |
0,00
|
Оригинал+перевод |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|