Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/6890802.aspx

ASTM F76-08(2016)e1

Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors

На языке оригиналаПоложить в корзину
Оригинал+переводПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеASTM F76-08(2016)e1
Заглавие на английском языкеStandard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors
Количество страниц оригинала14