| Обозначение | ISO/TS 22933:2022 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS). Метод измерения разрешения по массе в SIMS |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis Secondary ion mass spectrometry Method for the measurement of mass resolution in SIMS |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 01.04.2022 |
| Количество страниц оригинала | 22 |
| Код цены | C |
| Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации |
 |