 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C 6520 |  на печать | | Components and materials of semiconductor process - Measurement of wear characteristics by plasma |
|
| | Библиография | Обозначение | KS C 6520 | | Заглавие на английском языке | Components and materials of semiconductor process - Measurement of wear characteristics by plasma | | Дата опубликования | 2021.12.29 | | Код МКС | 31.080 | |
| | Стандарт KS C 6520 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
2592,00
|
|
|
|