 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-37(2022) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 37. Метод испытания на удар на уровне печатных плат с помощью акселерометра |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60749-37(2022) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 37. Метод испытания на удар на уровне печатных плат с помощью акселерометра | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 12.10.2022 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 43 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 2.0 | | Статус | Действует | | Код цены | F | |
| | Стандарт IEC 60749-37(2022) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
25110,00
|
|
|
|