| Обозначение | IEC 60749-37(2022) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 37. Метод испытания на удар на уровне печатных плат с помощью акселерометра |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 12.10.2022 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 43 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 2.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | F |
 |