 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 62047-44(2024) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 44. Методы измерения динамических характеристик МЭМС-резонаторов, чувствительных к электрическому полю |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 62047-44(2024) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 44. Методы измерения динамических характеристик МЭМС-резонаторов, чувствительных к электрическому полю | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices | | МКС | 31.080.99 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 22.02.2024 | | Язык оригинала | английский | | Количество страниц оригинала | 19 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47/SC 47F | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | E | |
| | Стандарт IEC 62047-44(2024) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
18630,00
|
|
|
|