 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
ISO 5861:2024 |  на печать | | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для кварц-кристаллических монохроматических приборов Al K XPS |
|
| | Библиография | Обозначение | ISO 5861:2024 | | Статус | Действует | | Вид стандарта | ST | | Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для кварц-кристаллических монохроматических приборов Al K XPS | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis X-ray photoelectron spectroscopy Method of intensity calibration for quartz-crystal monochromated Al K XPS instruments | | Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 | | ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 | | Язык оригинала | английский | | Номер издания | 1 | | Дата опубликования | 07.06.2024 | | Количество страниц оригинала | 34 | | Код цены | E | | Примечание | | |
| | Стандарт ISO 5861:2024 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
25110,00
|
|
|
|