| Обозначение | ISO 5861:2024 |
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для кварц-кристаллических монохроматических приборов Al K XPS |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis X-ray photoelectron spectroscopy Method of intensity calibration for quartz-crystal monochromated Al K XPS instruments |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 7 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 07.06.2024 |
| Количество страниц оригинала | 34 |
| Код цены | E |
| Примечание | |
 |