 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS C IEC 60749-28 |  на печать | | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing - Charged device model(CDM) - Device level |
|
| | Библиография | Обозначение | KS C IEC 60749-28 | | Международный стандарт | IEC 60749-28:2022(IDT) | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing - Charged device model(CDM) - Device level | | Дата опубликования | 2024.06.07 | | Код МКС | 31.080.01 | |
| | Стандарт KS C IEC 60749-28 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
6480,00
|
|
|
|