KS C IEC 60749-28 | Электронный магазин стандартов

KS C IEC 60749-28
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing - Charged device model(CDM) - Device level

	На языке оригинала
	Заказать перевод

Библиография

Обозначение	KS C IEC 60749-28
Международный стандарт	IEC 60749-28:2022(IDT)
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing - Charged device model(CDM) - Device level
Дата опубликования	2024.06.07
Код МКС	31.080.01

ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \