KS C IEC 60749-28
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing - Charged device model(CDM) - Device level
На языке оригинала
Заказать перевод
Библиография
Обозначение
KS C IEC 60749-28
Международный стандарт
IEC 60749-28:2022(IDT)
Заглавие на английском языке
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing - Charged device model(CDM) - Device level
Дата опубликования
2024.06.07
Код МКС
31.080.01
Стандарт KS C IEC 60749-28 входит в рубрики классификатора:
ОКС \ ЭЛЕКТРОНИКА \ Полупроводниковые приборы * Полупроводниковые материалы см. 29.045 \ Полупроводниковые приборы в целом \
Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7580999.aspx