Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7580999.aspx

KS C IEC 60749-28

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing - Charged device model(CDM) - Device level

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеKS C IEC 60749-28
Международный стандартIEC 60749-28:2022(IDT)
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge(ESD) sensitivity testing - Charged device model(CDM) - Device level
Дата опубликования2024.06.07
Код МКС31.080.01

Стандарт KS C IEC 60749-28 входит в рубрики классификатора: