 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
KS D ISO 14706 |  на печать | | Surface chemical analysis - Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy |
|
| | Библиография | Обозначение | KS D ISO 14706 | | Международный стандарт | ISO 14706:2014(IDT) | | Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis - Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy | | Дата опубликования | 2025.05.12 | | Код МКС | 71.040.40 | |
| | Стандарт KS D ISO 14706 входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
|