 |
 |
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск | карта сайта |
|
|
|
IEC 60749-34-1(2025) |  на печать | | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34-1. Испытание силового полупроводникового модуля на циклическое включение |
|
| | Библиография | Обозначение | IEC 60749-34-1(2025) | | Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34-1. Испытание силового полупроводникового модуля на циклическое включение | | Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module | | МКС | 31.080.01 | | Вид стандарта | ST | | Дата опубликования | 20.06.2025 | | Язык оригинала | английский;французский | | Количество страниц оригинала | 56 | | ТК – разработчик стандарта | TC 47 | | Номер издания | 1.0 | | Статус | Действует | | Код цены | G | |
| | Стандарт IEC 60749-34-1(2025) входит в рубрики классификатора:
| | |
| |
|
|
|
| Цены |
| На языке оригинала |
32400,00
|
|
|
|