| Обозначение | IEC 60749-34-1(2025) |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 34-1. Испытание силового полупроводникового модуля на циклическое включение |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Дата опубликования | 20.06.2025 |
| Язык оригинала | английский;французский |
| Количество страниц оригинала | 56 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
| Номер издания | 1.0 |
| Статус | Действует |
| Код цены | G |
 |