Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/4017202.aspx

DIN EN 60749-21-2005

Полупроводниковые устройства. Методы механических и климаических испытаний. Часть 21. Паяимость

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеDIN EN 60749-21-2005
Заглавие на русском языкеПолупроводниковые устройства. Методы механических и климаических испытаний. Часть 21. Паяимость
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability (IEC 60749-21:2004); German version EN 60749-21:2005
Дата опубликования01.06.2005
МКС31.080.01
Вид стандартаST
Обозначение заменяемого(ых) DIN EN 60749(2002-09)*DIN IEC 60749-21(2002-06)
Обозначение заменяющегоDIN EN 60749-21(2012-01)
Язык оригиналанемецкий
Количество страниц оригинала21
Перекрестные ссылкиIEC 60068 Reihe*IEC 60749 Reihe*IEC 60749-15(2003-02)*IEC 60749-20(2002-09)
Код ценыPreisgruppe 14

Стандарт DIN EN 60749-21-2005 входит в рубрики классификатора: