Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7750075.aspx

GB/T 24580-2009

Test method for measuring boron contamination in heavily doped n-type silicon substrates by secondary ion mass spectrometry

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеGB/T 24580-2009
Заглавие на английском языкеTest method for measuring boron contamination in heavily doped n-type silicon substrates by secondary ion mass spectrometry
Дата опубликования2009-10-30
Дата вступления в силу2010-06-01
Код МКС29.045
Разработан на основеSEMI MF 1528-1104
Степень гармонизацииMOD
Количество страниц оригинала12
СтатусPublished
Тип стандартаvoluntary national standard
Язык оригиналаChinese
Доступные языки
Имя файла
GPQH80

Стандарт GB/T 24580-2009 входит в рубрики классификатора: