Постоянная ссылка
https://www.standards.ru/document/7783545.aspx

IEC 62047-46(2025)

Приборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 46. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения прочности на разрыв мембраны наноразмерной толщины

На языке оригиналаПоложить в корзину
Заказать перевод

Библиография

ОбозначениеIEC 62047-46(2025)
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Микроэлектромеханические приборы. Часть 46. Технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения прочности на разрыв мембраны наноразмерной толщины
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane
МКС31.080.99
Вид стандартаST
Дата опубликования23.04.2025
Язык оригиналаанглийский
Количество страниц оригинала15
ТК – разработчик стандарта TC 47/SC 47F
Номер издания1.0
СтатусДействует
Код ценыD

Стандарт IEC 62047-46(2025) входит в рубрики классификатора: